Patlang ng Application
Pangunahing ginagamit ito upang matukoy ang pagganap ng kilabot at lakas ng pagtitiis ng mga materyales na metal sa ilalim ng isang tiyak na temperatura at pare-pareho ang pagkarga sa loob ng isang tinukoy na oras.
Ipatupad ang karaniwang GB/T2039-1997 "Metal Tensile Creep at Endurance Test Method", JJG276-88 "Verification Regulations for High Temperature Creep and Endurance Strength Testing Machine".
Pangunahing tampok
Ang karaniwang paglalarawan ng high temperature creep at endurance strength testing machine ay ginagamit upang matukoy ang mataas na temperatura creep at endurance strength performance ng mga metal na materyales sa ilalim ng mga kondisyon ng pare-pareho ang temperatura at pare-pareho ang makunat na puwersa sa axial na direksyon ng sample.
Teknikal na mga tampok
I-configure ang mga kaukulang accessory para makamit ang:
(1) Pagsubok sa lakas ng tibay ng mataas na temperatura:
A. Nilagyan ng high temperature test device at temperature control system,
B. Nilagyan ng permanenteng pull rod (specimen clamp),
C. Ang matibay na lakas ng materyal ay maaaring masukat sa ilalim ng pagkilos ng pare-pareho ang temperatura at pare-pareho ang makunat na pagkarga.
(2) Mataas na temperatura creep test:
A, nilagyan ng mataas na temperatura test device at temperatura control system,
B, nilagyan ng mataas na temperatura creep pull rod (sample fixture)
C, nilagyan ng creep extensometer (deformation drawing device)
D, nilagyan ng creep measuring instrument (deformation measuring instrument).
Ang mga katangian ng creep ng mga materyales ay maaaring masukat sa ilalim ng pare-pareho ang temperatura at pare-pareho ang makunat na pagkarga.
| Modelo | RDL-1250W |
| Pinakamataas na load | 50KN |
| Pagsukat ng saklaw ng puwersa | 1%-100% |
| Marka ng katumpakan ng puwersa ng pagsubok | 0.50% |
| Katumpakan ng paglilipat | ±0.5% |
| Saklaw ng bilis | 1*10-5—1*10-1mm/min |
| Katumpakan ng bilis | ±0.5% |
| Epektibong stretching distance | 200mm |
| Manu-manong adjustable moving distance | 50mm 4mm/rebolusyon |
| Epektibong lapad ng pagsubok | 400mm |
| Sample | bilog na sample φ5×25mm, φ8×40mm |
