1.Integrated na disenyo ng optical metallographic mikroskopyo at mikroskopyo ng atomic force, malakas na pag -andar

2. Ito ay may parehong optical mikroskopyo at atomic force microscope imaging function, kapwa maaaring gumana nang sabay -sabay nang hindi nakakaapekto sa bawat isa

3. Sa parehong oras, mayroon itong mga pag-andar ng optical two-dimensional na pagsukat at atomic force mikroskopyo na three-dimensional na pagsukat

4. Ang ulo ng pagtuklas ng laser at ang sample na yugto ng pag-scan ay isinama, ang istraktura ay matatag, at ang anti-panghihimasok ay malakas

5. Precision Probe Positioning Device, Madali ang Pagsasaayos ng Laser Spot Alignment

6. Ang sample ng single-axis drive ay awtomatikong lumapit sa pagsisiyasat nang patayo, upang ang dulo ng karayom ​​ay na-scan na patayo sa sample

7. Ang Paraan ng Pagpapakain ng Intelligent na karayom ​​ng Pressurized Piezoelectric Ceramic Awtomatikong Deteksyon ay pinoprotektahan ang pagsisiyasat at ang sample

8. Ultra-High Magnification Optical Positioning System upang makamit ang tumpak na pagpoposisyon ng probe at sample na pag-scan ng lugar

9. Pinagsamang scanner nonlinear correction user editor, nanometer characterization at pagsukat katumpakan mas mahusay kaysa sa 98%

Mga pagtutukoy: