1. Pinagsamang disenyo ng optical metallographic mikroskopyo at mikroskopyo ng lakas ng atomic, malakas na pag -andar

2. Mayroon itong parehong optical mikroskopyo at atomic force microscope imaging function, kapwa maaaring gumana nang sabay -sabay nang hindi nakakaapekto sa bawat isa

3 Maaaring magtrabaho sa ordinaryong kapaligiran ng hangin, likido na kapaligiran, kapaligiran sa kontrol ng temperatura at kapaligiran ng control ng gas sa parehong oras

4. Ang halimbawang pag -scan ng talahanayan at ang ulo ng pagtuklas ng laser ay idinisenyo sa isang saradong uri, at ang mga espesyal na gas ay maaaring mapunan at maipalabas sa loob, nang hindi nagdaragdag ng isang takip ng sealing

5. Ang pagtuklas ng laser ay nagpatibay ng isang patayong disenyo ng optical path, at maaaring gumana sa ilalim ng likido na may gas-liquid dual-purpose probe holder

6. Ang sample ng single-axis drive ay awtomatikong lumapit sa pagsisiyasat nang patayo, upang ang dulo ng karayom ​​ay na-scan na patayo sa sample

7. Ang Paraan ng Pagpapakain ng Intelligent na karayom ​​ng Pressurized Piezoelectric Ceramic Awtomatikong Deteksyon ay pinoprotektahan ang pagsisiyasat at ang sample

8. Ultra-High Magnification Optical Positioning System upang makamit ang tumpak na pagpoposisyon ng probe at sample na pag-scan ng lugar

9. Pinagsamang scanner nonlinear correction user editor, nanometer characterization at pagsukat katumpakan mas mahusay kaysa sa 98%

Mga pagtutukoy: